深圳市捷啟電子有限公司為您提供田野儀器相位差 雙折射 內部翹曲wpa/pa系列。樹脂成型品的內部翹曲、光學薄膜的相位差分布測量設備全面測量玻璃等相位差較小樣品。

產品簡介：wpa 系列是一款適用性較高的應力雙折射檢測設備,采用自研的光子晶體技術,通過關鍵的偏光圖像傳感器,可快速準確地測量透明材料的應力雙折射。 pa 系列是針對玻璃、 sic 晶圓、藍寶石等低應力雙折射的測量系統,同樣基于光子晶體技術,利用偏光圖像傳感器進行測量。

性能特點：測量迅速,數秒內即可完成測量。測量范圍廣, wpa 系列可測相位差可達3500nm甚至可拓展至10000 nm , pa 系列適用于小應力雙折射測量。精度高,重復性好,部分型號測量小分辨率達0.001nm,重復性小于1.0nm。數據呈現直觀,以二維分布圖像展示,可快速定位應力集中區域。分析功能完善,具備點、線、面、三維功能。維護簡便,不含旋轉光學濾片機構。此外, pa 系列像素 高,可達500萬, wpa 系列部分型號也有較高像素 ,成像清晰,且配套軟件功能豐富,方便數據處理。

主要技術規格：

wpa 系列：wpa -200/l ,輸出項目：光程差 nm )、偏振角度。)、應力 mpa )、應力雙折射 nm / mm )。測定范圍：0-3500nm以水晶為基準。重復再現精度：0<1nm。像素 ：約11萬像素 。測量波長：523nm、543nm、575nm。測量尺寸： wpa -200為24x32mm~100x133mm、wpa -200- l 為33x44mm~240x320mm。選配鏡頭：3.0x4.0mm~12.9x17.2mm。設備尺寸： wpa -200為270x337x631mm、 wpa -200l為430x487x977mm。

pa 系列：pa -300/l,輸出項目：光程差 nm )、偏振角度。)、應力 mpa )、應力雙折射 nm / mm )。測定范圍：0-130nm以水晶為基準。重復再現精度：0<0.1nm。像素 ：約500萬像素 。測量波長：520nm。測量尺寸： pa -300為27x36mm~99x132mm、pa -300l為40x48mm~240x320mm。選配鏡頭：7.0x8.4mm~23x28mm。設備尺寸： pa -300為270x337x631mm、 pa -300l為430x487x1142mm。