半導體博曼（bowman)膜厚測試儀可測量：單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費，應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀 分析:詳述.元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發能量50 w(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅pin檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素，深圳市金東霖科技有限公司是美國博曼x射線鍍層膜厚測試儀中國區一級專業資深代理商，集銷售、保養、校正（調試）及維修等專業服務一體化 ，讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標！

bowman膜厚測試儀檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費.　典型的應用範圍如下：
單一鍍層：zn， ni，cr，cu，ag，au，sn等。
二元合金層：例如fe上的snpb，znni和nip合金。
三元合金層：例如ni上的aucdcu合金。
雙鍍層：例如au/ni/cu，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如cr/nicu/plastic；fe。 
.x射線激發能量50 w(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅pin檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素
（bowman）博曼膜厚測試儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意，為客戶創造最大的價值是金東霖追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖,有需要的朋友請聯系