簡單介紹ts系列冷熱沖擊試驗箱設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；

冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱  的詳細介紹ts系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱

(tow/three-zone) thermal shock test chambers

*設(shè)備特點

規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；

設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；

高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；

工作室材料為sus304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；

高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最小；

表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；

高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；

多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；

大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；

環(huán)保型制冷劑  –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

*溫度控制

可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；

全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；

每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；

usb接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；

采用國際流行的制冷控制模式，可以0％~100％自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30％；

制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*設(shè)備滿足以下標準

gb/t 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

gb/t 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗a：低溫

gb/t 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗b：高溫

gb/t 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

gjb 150.3a-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗

gjb 150.4a-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

gjb 150.5a-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗

gjb 360b-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

型號  tsl-80-atsu-80-wtss-80-wtsl-150-atsu-150-wtss-150-wtsl-225-wtsu-225-wtss-225-wtsl-408-wtsu-408-wtss-408-w標稱內(nèi)容積（升）80150200300試驗方式氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式性能高溫室預(yù)熱溫度范圍＋60～＋200℃升溫速率※1＋60→＋200℃≤20分鐘低溫室預(yù)冷溫度范圍－78－0℃降溫速率※1＋20→－75℃≤80分鐘試驗室溫度偏差±2℃溫度范圍tsl:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;tsu:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;tss:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃溫度恢復(fù)時間※25分鐘以內(nèi)試樣擱架承載能力30kg試樣重量7.5kg7.5kg10kg10kg內(nèi)部尺寸（mm）w500600750850h400500500600d400500600800外形尺寸（mm）※4w1460156017101880h1840194019402040d1500160017001900※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能�！�2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(programmable thermal shock tster)---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加ln2功能試驗規(guī)范 駐留溫度(℃)

(exposure temp.)駐留溫度時間(min)

(exposure time)覆歸時間

(recovery time) 周期

或次數(shù)試驗起

始點備注適用機臺型號

ts-(80/150/225/408)高溫室溫低溫高溫/低溫室溫sulmil-std-883e

(method no.1010.7)+85+10-----550≧10min

≦15min----含駐留時間&

轉(zhuǎn)換時間≦15min最少

10次低溫或

高溫temperature cycling

(轉(zhuǎn)換時間<1min)

實驗過程若中斷

超過總實驗之1/10

次則實驗須重做◎◎----0+125+15◎◎----0-10+150+15◎◎----0+150+15-650◎.----0-10mil-std-202f

(method no.107g)+83+3-25+10-55028g以下

15～30 min

28～136g

30min

136g～1.36kg

60min

1.36～13.6kg

120min

13.6~136kg

240minmax.

5 min5 min 以內(nèi)5 cycle

25

50

100低溫transfer time

不超過5 min◎◎◎0-3+125+3-650◎◎----0-5-5+125+3-650◎◎----0-5jis c 0025

iec 68-2-14

gb 2423.22+70+85+100+125±2±2±2±2室溫-5-10-25-40-55-65±3

±3

±3

±3

±3

±33hr

2hr

1hr

30min

或無定義則

以3hr定義手動轉(zhuǎn)

移時間

2～3min為駐留時間

之1/105 cycle

除非有

其它規(guī)格低溫auto

transfer time

不超過30 sec

小試件

transfer time

不超過10 sec★★★◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎----ipc 2.6.7+70±2----0+015 min----2 min 以內(nèi)100 cycle高溫

(試驗結(jié)束

點在高溫)transfer time

不超過2 min★★★-0-5+85+5-40+0◎◎◎-0-5+105+5-55+0◎◎．-0-5+105+5-65+0．．-----0-5+105+5．．-----0ipc 2.6.6+85+3-25+10-55+030 min10-15

min5 cycle◎◎◎-0-5+125+3-5-65+0◎◎-----0-5bellcore

gr-1221-core+70±2----≧10min

≦15min----含駐留時間

&轉(zhuǎn)換時間≦15min500 cycle

or

1000cycle◎◎◎+80±2◎◎◎jesd22

a104-a+125+10-40+0≦15min含駐留時間

&轉(zhuǎn)換時間≦15min抽10次

可接受;

1000次

合格temperature

cycling

(轉(zhuǎn)換時間<1min)

實驗過程若中斷

超過總實驗之1/10

次則實驗須重做◎◎◎-0-10+85+10-55+0◎◎．-0+125+10-0-10+150+10-0+150+10-65+0◎．----