edx 4500h x熒光光譜儀是利用xrf檢測原理實現對各種元素  成份進行快速、準確、無損分析。 
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對si、p、s、al、mg等輕元素  具有良好的激發效果，利用xrf技術可對高含量的cr、ni、mo等重點關注的元素  進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 
另外，在合金分析、全元素  分析、有害元素  檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗x光管，指標達到國際先進水平 
最新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000cps，精度更高。在合金檢測中效果更好
sdd硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
低能x射線激發待測元素  ，對si、p等輕元素  激發效果好 
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍 
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術使譜峰分解，使被測元素  的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素  間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數

產品型號：edx 4500h
產品名稱：x熒光光譜儀 
測量元素  范圍：從鈉（na）到鈾（u）
元素  含量分析范圍： ppm—99.99％（不同元素  ，分析范圍不同） 
同時分析元素  ：一次性可測幾十種元素   
測量時間：30秒-200秒 
探測器能量分辨率為：145±5ev
管壓：5kv-50kv 
管流：50μa-1000μa
測量對象狀態：粉  末、固體、液體
輸入電壓：ac 110v/220v
環境溫度：15℃-30℃ 
環境濕度：35％-70％
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65kg

標準配置

高效超薄窗x光管 
sdd硅漂移探測器 
數字多道技術
光路增強系統 
高信噪比電子線路單元 
內置高清晰攝像頭 
自動切換型準直器和濾光片 
自動穩譜裝置 
三重安  全保護模式 
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素  分析、有害元素  檢測（rohs、鹵素  ）